微帶線結構的特性阻抗Z0計算公式:Z0 = 87/r +1.41 ln5.98H / (0.8W+T)
其中:εr -介電常數 H-介質厚度 W-導線寬度 T-導線厚度
板材的 εr 越低,越容易提高PCB線路的Z0 值,而與高速 元件的輸出阻抗值匹配。
1、 特性阻抗Z0與板材的εr成反比
Z0 隨著介質厚度的增加而增大。因此,對Z0 嚴格的高頻 線路來說,對覆銅板基材的介質厚度的誤差,提出了嚴格的 要求。通常,介質厚
度變化不得超過10%。
2、 介質厚度對特性阻抗Z0的影響
隨著走線密度的增加,介質厚度的增加會引起電磁干擾 的增加。因此,高頻線路和高速數位線路的信號傳輸線,隨 著導體佈線密度的增加
,應減小介質厚度,以消除或降低電 磁干擾所帶來的雜信或串擾問題、或大力降低εr ,選用低εr 基材。
根據微帶線結構的特性阻抗Z0 計算公式:Z0 = 87/r +1.41 ln5.98H / (0.8W+T)
銅箔厚度(T)是影響Z0的一個重要因素,導線厚度越 大,其Z0越小。但其變化範圍相對較小。
3、 銅箔厚度對特性阻抗Z0的影響
越薄的銅箔厚度,可得到較高的Z0 值,但其厚度變化對 Z0 貢獻不大。
採用薄銅箔對Z0 的貢獻,還不如說是由於薄銅箔對製造 精細導線,來提高或控制Z0 而作出貢獻更為確切。
根據公式:
Z0 = 87/r +1.41 ln5.98H / (0.8W+T)
線寬W越小,Z0越大;減少導線寬度可提高特性阻抗。
線寬變化比線厚變化對Z0的影響明顯得多。
4、 導線寬度對特性阻抗Z0的影響
Z0 隨著線寬W變窄而迅速增加,因此,要控制Z0 ,必須嚴 格控制線寬。目前,大多數高頻線路和高速數位線路的信號傳輸線寬 W為0.10或
0.13mm。傳統上,線寬控制偏差為±20%。對非傳輸線的常規電 子產品的PCB導線(導線長 < 信號波長的1/7)可滿足要 求,但對有Z0 控
制的信號傳輸線,PCB導線寬度偏差±20%, 已不能滿足要求。因為,此時的Z0 誤差已超過±10%。
舉例如下:
某PCB微帶線寬度為100μm,線厚為20μm,介質厚度為100μm,假設成品 PCB銅厚度均勻不變,問線寬變化±20%,Z0 能否符合±10%以內
?
解:根據公式
Z0 = 87/r +1.41 ln5.98H / (0.8W+T)
代入:線寬W0 = 100μm, W1 = 80μm, W2 = 120μm,線厚T=20μm,介 質厚度H=100μm,則:Z01 /Z02 =1.20
所以,Z0 剛好±10%,不能達到<±10%。
要達到特性阻抗Z0 <±10%,導線寬偏差必須進一步縮小, 必須遠小於±20%才行。
同理,要控制Z0 ≤5%,導線寬公差必須控制≤±10%。
因此,我們就不難理解,為什麼聚四氟乙烯PCB和某些 FR-4PCB,要求線寬±0.02mm,其原因就是要控制特性阻抗 Z0值。